Papier i tektura [Norma] : pomiar połysku - część 1: połysk pod kątem 75° z zastosowaniem wiązki zbieżnej, metoda TAPPI
Preview format:
Papier i tektura [Norma] : pomiar połysku - część 1: połysk pod kątem 75° z zastosowaniem wiązki zbieżnej, metoda TAPPI
Preview format: